本发明提出了一种磁控开关电气寿命的检测装置,包括:传送带;支架,支架支撑传送带;控制传送带转动的电机;位于传送带一侧的一个或多个磁控开关;分别与一个或多个磁控开关相互串联的一个或多个第一发光器件;与一个或多个磁控开关及一个或多个第一发光器件以及电机相连的直流电源,用于为一个或多个磁控开关及一个或多个第一发光器件以及电机供电;以及设置在传送带上的至少一个磁铁,磁铁随传送带转动以不断地触发一个或多个磁控开关。本发明的实施例能够模拟多种测试环境,从而检测出磁控开关在不同模拟环境下的电气寿命,具有测试准确的优点,且该装置结构简单,成本低。
1.一种磁控开关电气寿命的检测装置,其特征在于,包括:传送带;支架,所述支架支撑所述传送带;控制所述传送带转动的电机;位于所述传送带一侧的一个或多个磁控开关;分别与所述一个或多个磁控开关一一对应且相互串联的一个或多个第一发光器件;与所述一个或多个磁控开关及所述一个或多个第一发光器件以及所述电机相连的直流电源,用于为所述一个或多个磁控开关及所述一个或多个第一发光器件以及所述电机供电;设置在所述传送带上的至少一个磁铁,所述磁铁随所述传送带转动以不断地触发所述一个或多个磁控开关;以及高度调节装置,用于调节所述传送带及所述电机的高度以调整所述传送带上磁铁与所述一个或多个磁控开关之间的距离,其中,所述直流电源至少包括第一输出端、第二输出端和第三输出端,所述第一输出端输出第一电压,所述第二输出端输出第二电压,且所述第三输出端输出第三电压,所述第一输出端、第二输出端和第三输出端分别与一个第一发光器件和磁控开关相连。
2.如权利要求1所述的磁控开关电气寿命的检测装置,其特征在于,所述第一电压为5V、所述第二电压为12V,所述第三电压为15V。
3.如权利要求1所述的磁控开关电气寿命的检测装置,其特征在于,还包括交流电源,所述交流电源与至少一个第二发光器件和磁控开关相连。
4.如权利要求3所述的磁控开关电气寿命的检测装置,其特征在于,所述交流电源提供220V的电压。
5.如权利要求1所述的磁控开关电气寿命的检测装置,其特征在于,还包括:与所述一个或多个第一发光器件并联的第一可调电阻以通过所述第一可调电阻调整通过相应磁控开关的电流。
6.如权利要求1所述的磁控开关电气寿命的检测装置,其特征在于,所述电机的转速可调。
7.如权利要求6所述的磁控开关电气寿命的检测装置,其特征在于,还包括:连接在所述直流电源和所述电机之间的第二可调电阻,并通过调整所述电机的电压以调整所述电机的转速。
8.如权利要求3所述的磁控开关电气寿命的检测装置,其特征在于,所述第一发光器件为发光二极管,所述第二发光器件为灯。技术领域
本发明涉及电气技术领域,特别涉及一种磁控开关电气寿命的检测装置。
背景技术
磁控开关(干簧管)是一种磁敏的特殊开关。它的两个触点由特殊材料制成,被封装在真空的玻璃管里。当磁铁接近时,磁控开关的两个节点就会吸合在一起,使电路导通。因此,磁控开关常被用作传感器,用于计数、限位等。目前,检测磁控开关电气寿命的装置主要是专用的脉冲式电磁线圈,该装置比较复杂而且往往只能测出某些特定电路特性下的电气寿命。由此,用脉冲式电磁线圈测磁控开关存在以下问题,设备成本高,导致设计成本的上升。测试环境单一,由于规格书上给出的测试条件与实际电气环境有较大差异,如冰箱使用过程中磁控开关的真实温度、最大开关电流、开关电压、触点负载等,将导致磁控开关电气寿命的测试结果产生较大的偏差,从而影响电气设备,如冰箱的性能。然而,对于不同灵敏度的磁控开关、最大开关电流、开关电压、触点负载以及磁控开关的工作温度都会影响磁控开关的电气寿命。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本发明的目的在于提出一种磁控开关电气寿命的检测装置,该监测装置能够模拟多种测试环境,从而检测出磁控开关在不同模拟环境下的电气寿命,具有测试准确的优点,且该装置结构简单,成本低。为了实现上述目的,本发明的实施例提出了一种磁控开关电气寿命的检测装置,包括传送带;支架,所述支架支撑所述传送带;控制所述传送带转动的电机;位于所述传送带一侧的一个或多个磁控开关;分别与所述一个或多个磁控开关相互串联的一个或多个第一发光器件;与所述一个或多个磁控开关及所述一个或多个第一发光器件以及所述电机相连的直流电源,用于为所述一个或多个磁控开关及所述一个或多个第一发光器件以及所述电机供电;以及设置在所述传送带上的至少一个磁铁,所述磁铁随所述传送带转动以不断地触发所述一个或多个磁控开关。根据本发明实施例的磁控开关电气寿命的检测装置,电机驱动传送带转动,使得磁铁经过磁控开关的感应区域时,磁控开关在磁铁磁力作用下导通,从而点亮第一发光器件。按上述过程,随着磁铁的不停转动,第一发光器件将被不断地点亮,当第一发光器件不能被点亮时可判定磁控开关失效,从而可以测出磁控开关的电气寿命。另外,根据本发明上述实施例的磁控开关电气寿命的检测装置还可以具有如下附加的技术特征:根据本发明的一个实施例,所述直流电源至少包括第一输出端、第二输出端和第三输出端,所述第一输出端输出第一电压,所述第二输出端输出第二电压,且所述第三输出端输出第三电压,所述第一输出端、第二输出端和第三输出端分别与一个第一发光器件和磁控开关相连。由此,通过选择不同的输出端对第一发光器件进行供电,可以使第一发光器件工作在不同的电压下,进而可以检测出磁控开关在不同的测试环境(电压)下的电气寿命。根据本发明的一个实施例,所述第一电压为5v、所述第二电压为12v,所述第三电压为15v。根据本发明的一个实施例,还包括交流电源,所述交流电源与至少一个第二发光器件和磁控开关相连。由此,进一步增加了测试环境,使磁控开关可以在交流电源下检测其电气寿命。根据本发明的一个实施例,所述交流电源提供220v的电压。根据本发明的一个实施例,所述磁控开关电气寿命的检测装置还包括:与所述一个或多个第一发光器件并联的第一可调电阻以通过所述第一可调电阻调整通过相应磁控开关的电流。由此,通过调节第一可调电阻调整通过相应磁控开关的电流,使得磁控开关可以在一个电流区间内的任意一个电流下进行电气寿命的测试,进一步模拟磁控开关所在的真实环境,使得磁控开关的电气寿命测试结果更加精确。根据本发明的一个实施例,所述电机的转速可调。根据本发明的一个实施例,所述磁控开关电气寿命的检测装置还包括:连接在所述直流电源和所述电机之间的第二可调电阻,并通过调整所述电机的电压以调整所述电机的转速。由此,通过调节第二可调电阻调整磁铁通过磁控开关的速度,使得磁控开关可以在不同磁铁通过磁控开关通过其的速度的电气环境(测试环境)中进行磁控开关的电气寿命测试,进一步提升磁控开关的电气寿命的测试准确性,进而能够准确地验证磁控开关的电气寿命是否在要求范围以内。根据本发明的一个实施例,所述磁控开关电气寿命的检测装置还包括:高度调节装置,用于调节所述传送带及所述电机的高度以调整所述传送带上磁铁与所述一个或多个磁控开关之间的距离。由此,通过调节传送带的位置调整磁铁与磁控开关的相对位置,使得磁控开关可以在不同的磁铁与磁控开关的相对位置的电气环境(测试环境)中进行磁控开关的电气寿命测试,进一步提升磁控开关的电气寿命的测试的准确性,从而确保设备,如冰箱开发顺利进行,避免开发后期繁琐的设计更改。根据本发明的一个实施例,所述第一发光器件为发光二极管,所述第二发光器件为灯。本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:图1为本发明实施例的磁控开关电气寿命的检测装置剖面图;图2为本发明实施例的磁控开关电气寿命的检测装置的主视图;以及图3为本发明实施例的磁控开关电气寿命的检测装置的电气连接示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。在本发明的描述中,需要理解的是,术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本发明的描述中,除非另有规定和限定,需要说明的是,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是机械连接或电连接,也可以是两个元件内部的连通,可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。以下结合附图描述根据本发明实施例的磁控开关电气寿命的检测装置。参考图1-3,根据本发明实施例的磁控开关电气寿命的检测装置100包括传送带110、支架120、电机130、一个或多个磁控开关140、一个或多个第一发光器件150、直流电源160以及至少一个磁铁170。支架120用于支撑传送带110。电机130用于控制传送带110转动。磁控开关140位于传送带的一侧。一个或多个第一发光器件150分别与一个或多个磁控开关140相互串联,即第一发光器件150与磁控开关140一一对应,一个第一发光器件150与一个磁控开关140串联。直流电源160与所述一个或多个磁控开关140及一个或多个第一发光器件150以及电机130相连,用于为一个或多个磁控开关140及一个或多个第一发光器件150以及所述电机130供电,即直流电源160与每一对串联的第一发光器件150和磁控开关140相连,且与电机130相连。磁铁170设置在传送带110上,磁铁170随传送带110转动以不断地触发一个或多个磁控开关140,即由于磁控开关140位于传送带110的一侧,所以在磁铁170随着传送带110转动过程中,将不断地经过磁控开关140的感应区域,使得磁控开关140的触电闭合,当经过磁控开关140的感应区域范围以外,磁控开关140触电打开,因此,周而复始地,可使磁控开关140不断地进行触电的打开和闭合。根据本发明实施例的磁控开关电气寿命的检测装置100,电机130驱动传送带110转动,使得磁铁170经过磁控开关140的感应区域时,磁控开关140在磁铁170磁力作用下导通,从而点亮第一发光器件150。按上述过程,随着磁铁170的不停转动,第一发光器件150将被不断地点亮,当第一发光器件150不能被点亮时可判定磁控开关140失效,从而可以测出磁控开关140的电气寿命。参见图2或图3,直流电源160至少包括第一输出端161、第二输出端162和第三输出端163,第一输出端161输出第一电压,第二输出端162输出第二电压,且第三输出端163输出第三电压,第一输出端、第二输出端和第三输出端分别与一个第一发光器件150和磁控开关140相连。在该实施例中,直流电源160输出的第一电压例如为5v、第二电压例如为12v,第三电压为15v。由此,通过选择不同的输出端(第一输出端161、第二输出端162或第三输出端163,)对第一发光器件150进行供电,可以使第一发光器件150工作在不同的电压(测试环境)下,进而可以检测出磁控开关140在不同的测试环境(电压)下的电气寿命。进而更加与磁控开关140的真实的工作环境相吻合,保证检测到的磁控开关140的电气寿命更加准确。在该实施例中,第一发光器件150为发光二级管。结合图3,在该实施例中,可以通过闭合第一输出端161、第二输出端162和第三输出端163与第一发光器件150和磁控开关140相连的开关进行选择接通不同的输出端,如通过关闭开关SW1、SW2或SW3相应地选择12V、5V或者15V进行供电。如图3所示,本发明实施例的磁控开关电气寿命的检测装置可包括交流电源180,交流电源180与至少一个第二发光器件190和磁控开关140相连。由此,进一步增加了磁控开关140的测试环境,使磁控开关140可以在交流电源下检测其电气寿命,进而能够准确地检测到当磁控开关140在真实环境中以交流电源180进行供电情况下相对准确的电气寿命。在该实施例中,例如交流电源180提供的交流电为220v的电压。另外,第二发光器件190可以为灯,即普通照明灯AMP即可。结合图2或图3,进一步地,磁控开关电气寿命的检测装置100还包括与一个或多个第一发光器件150并联的第一可调电阻VR1以通过第一可调电阻VR1调整通过相应磁控开关140的电流,即第一可调电阻VR1与一个或多个第一发光器件150并联,第一可调电阻VR1起到分流作用。由此,通过调节第一可调电阻VR1调整通过相应磁控开关140的电流,使得磁控开关140可以在一个电流区间内的任意一个电流下进行电气寿命的测试,进一步模拟磁控开关140所在的真实环境,使得磁控开关140的电气寿命测试结果更加精确。需说明,上述电流区间为第一可调电阻VR1调节到最小值与最大值时,通过一个或多个第一发光器件150中的电流所包括的电流区间。在本发明的一个实施例中,电机130的转速可调。如通过调节施加在电机130上的电压,可改变电机130的转速,从而控制磁铁170经过磁控开关140的速度,提高磁控开关140的检测频率,提升磁控开关140的检测效率。进一步地,磁控开关电气寿命的检测装置100还包括连接在所述直流电源160和电机130之间的第二可调电阻VR2,并通过调整电机130的电压以调整电机130的转速,即第二可调电阻VR2与电机130串联,通过分压调整施加到电机130的电压。由此,通过调节第二可调电阻VR2调整磁铁170通过磁控开关140的速度,使得磁控开关140可以在不同磁铁170通过磁控开关140通过其的速度的电气环境(测试环境)中进行磁控开关140的电气寿命测试,进一步提升磁控开关140的电气寿命的测试准确性,进而能够准确地验证磁控开关140的电气寿命是否在要求范围以内。在本发明的其它示例中,磁控开关电气寿命的检测装置100包括高度调节装置200,高度调节装置200用于调节传送带110及电机130的高度以调整传送带110上磁铁与一个或多个磁控开关140之间的距离。由此,通过调节传送带110的位置调整磁铁170与磁控开关140的相对位置,使得磁控开关140可以在不同的磁铁170与磁控开关140的相对位置的电气环境(测试环境)中进行磁控开关的电气寿命测试,进一步提升磁控开关140的电气寿命的测试的准确性,从而确保设备,如冰箱开发顺利进行,避免开发后期繁琐的设计更改。根据本发明实施例的磁控开关电气寿命的检测装置能够模拟出设备电路,如冰箱电路的实际电气环境,通过调节第一可调电阻调整通过相应磁控开关的电流,通过调节第二可调电阻调整磁铁通过磁控开关的速度以及通过调节传送带的位置调整磁铁与磁控开关的相对位置等,使得磁控开关可以在不同工作电流、磁铁通过磁控开关的速度或磁铁与磁控开关的相对位置或其组合等多种电气环境(测试环境)中进行磁控开关的电气寿命测试,从而得到相对准确的磁控开关的电气寿命,进而能够准确地验证磁控开关的电气寿命是否在要求范围以内,从而确保设备,如冰箱开发顺利进行,避免开发后期繁琐的设计更改。另外,该监测装置结构简单,成本低。本发明实施例的磁控开关电气寿命的检测装置可以简单、准确地验证磁控开关的电气寿命是否在要求范围以内,从而确保开发顺利进行,避免开发后期繁琐的设计更改。优点如下:1、可以模拟电气设备(如冰箱)电路的实际电气环境,从而获得更为准备的测试结果。2、具有参数可调节的优点,可以调节磁控开关的工作电流、、磁铁通过磁控开关的速度、位置等从而获得多种测试环境。3、通过发光器件的亮灭可以明确的判定出磁控开关的电气寿命。4、通过计算电机的转速来获得准备的测试结果。例如:按电机每分钟转动1200次、传送带长度与电机转盘周长的比例为10、使用5个永磁铁,每天可以检测864000次的磁控开关的通断。在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。尽管已经示出和描述了本发明的实施例,本领域的普通技术人员可以理解:在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由权利要求及其等同物限定。